產品介紹
全自動影像測量儀規格參數:
儀器型號 | XG-VMC250 |
測量行程 | X250×Y250×Z200mm |
測量精度 | X、Y軸E2=(3+L/200)µm;Z軸E1=(3.0+L/150)µm*標注 |
三軸重復精度 | ≤3.0µm |
zui大移動速度 | X、Y軸=150mm/s;Z軸=50mm/s |
移動加速度 | X、Y軸=250mm/s2;Z軸=110mm/s2 |
zui大承重 | 25kg |
儀器尺寸 | 約W800×D840×H1700mm |
儀器重量 | 約300kg |
使用電源 | 1∮ AC220V 50HZ 10A |
* L為被測長度,單位:mm
※ 可選購Renishaw接觸式探頭,搭配測量軟件,可測試立體工件上的斜面、圓、槽溝、柱、球、錐、盲孔、高度等。
全自動影像測量儀機構系統:
1. 懸臂式結構,00級花崗巖底座,確保機構不變形
2. 高精度、低折射率工業光學玻璃測試平臺
3. 高精度、高穩定性日本THK直線導軌
導軌直線度:±2µm
4. 高穩定、高精度、低噪音日本黑田(KURODA)滾珠絲桿
5. 高抗扭性日本三木(MIKIPULLEY)聯軸器
6. 可選配固定治具,固定或壓平測試樣品
電控系統:
1. 高穩定性日本松下(Panasonic)AC伺服馬達
2. 美國Galil運動控制卡
四軸伺服控制卡
PCI總線
脈沖輸出頻率:3MHZ
四路編碼器輸入口頻率:12MHZ
8入8出I/O點
zui小伺服更新率:1~2軸:125微秒;3~4軸:250微秒
3. 高分辨率英國雷尼紹(Renishaw)封閉式光柵尺
光柵尺分辨率:1.0µm
4. 雷賽(Leadshine)計數卡ENC7480
32位PCI總線
4軸28位計數器,zui大輸入頻率5MHZ
5. 計算機:影像測量儀(當前主流配置)
影像系統:
1. 日本索尼(SONY) 1/2″高清晰彩色相機,768×494pixel
2. 美國Navitar全自動變倍鏡頭Zoom 6000
變倍比率:1:6.5
光學放大倍率:0.7~4.5×
影像放大倍率:28~145×/44~290×(加裝2×物鏡)
工作距離:34~390mm
3. 工業高速、高清晰天敏(10moons)視頻采集卡SDK2000
分辨率:800×600pixel
32位真彩色
60幀/秒
光源系統:
1. 表面燈:自動可控式LED冷光源,五環八區四十相,光投射角度27~75°
2. 輪廓燈:自動可控式LED冷光源,256級可調
軟件介紹:
1. 物件區:點、線、圓、弧、橢圓、距離、間距、角度、矩形、槽型孔、坐標系、點云、平面、球、圓柱、圓錐、O型環
2. 方法區:中心點、平分、相切、相交、X軸極大值、Y軸極大值、X軸極小值、Y軸極小值、多點回歸、同心圓、垂直、平行、投影
3. 坐標工具:面補正、X軸補正、Y軸補正、平移與旋轉、調用機械坐標系、原點補正、X軸歸零、Y軸歸零、Z軸歸零
4. 測量工具區:對焦點、手動點、手動圓、手動弧、橢圓、探針觸發、云點、圓、線、zui近邊界點、沿線zui近點、弧、中心線等
5. 幾何繪圖工具區:前視圖、右視圖、上視圖、等角視圖、局部坐標系、影像幾何繪圖、黑白/彩色、zui適縮放比、框選放大、拉近/拉遠、旋轉、平移等功能
6. 自動變焦系統,避免鏡頭倍率變換后的影像校正
7. 提供完整幾何公差計算,具備完整量測功能,量測數據可存盤并隨時輸出計算,還可進行SPC統計制程管制
8. 工件測量圖形化,圖形可存盤、打印并轉存CAD圖檔,編輯點、線、弧、面、亦可多點測定,與產品圖紙做偏差比較
9. 影像可通過屏幕顯示觀察,可任意放大縮小并可轉換成幾何測量對比
10. 提供影像直接尋像工具,點、線、框、圓、弧都可快速尋邊,*去毛邊功能,快速去除有毛邊或瑕疵的影像,正確取得量測數據
11. 不用再專門為自動檢測建立一個教導程序,就所測量的步驟軟件可以記錄下來,只要點擊按鈕,即可生成自動步驟的自檢程序
12. 強大的三維CAD繪圖處理功能,提供窗口,框選窗口,實時立體旋轉,縮放,平移等基本視角切換功能
13. 形位公差功能:位置度,直線度,平行度,傾斜度,垂直度,對稱度,平面度,真圓度,同心度,同軸度等形位公差設定
14. 輸出Word、Excel、AutoCAD文件或SPC統計報表輸出,并且具有DXF輸入離線編程功能
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